Performance analysis of GaAs based solar cells under gamma irradiation von Papež, Nikola, Gajdoš, Adam, Dallaev, Rashid, Sobola, Dinara, Sedlák, Petr, Motúz, Rastislav, Nebojsa, Alois, Grmela, Lubomír

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Fully Integrated Pixelated 4D-STEM Detector for Scanning Electron Microscopes von Stejskal, Pavel, Motúz, Rastislav, Horák, Michal, Šikola, Tomáš

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Correlative microscopy and spectroscopy of nanophotonic materials von Foltýn, Michael, Liška, Petr, Kepič, Peter, Motúz, Rastislav, Jiruše, Jaroslav, Konečná, Andrea, Křápek, Vlastimil, Šikola, Tomáš, Horák, Michal

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PMD Study & Measurement – Fixed Analyzer Method von Motuz, Rastislav, Munster, Petr, Filka, Miloslav

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Theoretical assessment of the OTDR detector noise on plasma current measurement in tokamaks von Motuz, Rastislav, Leysen, Willem, Moreau, Philippe, Gusarov, Andrei, Drexler, Petr, Wuilpart, Marc

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METHOD AND SYSTEM FOR PREVENTING FORGERY von BALDISCHWEILER, Michael, FISCHER, Dietrich, MOTÚZ, Rastislav

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Method and system for preventing forgery von Motúz, Rastislav, Baldischweiler, Michael, Fischer, Dietrich

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Verfahren und System zur Fälschungssicherung von Baldischweiler, Michael, Motuz, Rastislav, Fischer, Dietrich

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