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TOF-SIMS study of polyester/melamine resin with Ar gas cluster ion beam
Veröffentlicht in Surface and interface analysis
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Extraction of trapped ions from the Tokyo electron beam ion trap
Veröffentlicht in Physica scripta
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0.1-Micrometer scaling by 1:1 synchrotron radiation lithography
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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A way to 0.1 micron by 1:1 SR lithography
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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25pKD-8 カシミール力が作用している傾斜平板の安定性(量子論基礎・その他の量子力学系,領域11(統計力学,物性基礎論,応用数学,力学,流体物理))...
Veröffentlicht in 日本物理学会講演概要集
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Desorption induced by electronic potential energy of multiply charged ions
Veröffentlicht in Surface science
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