Suchergebnisse - Mitani, Naoji

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Optical Properties of AgIn(S y Se 1-y ) 2 von Sugiyama, Mutsumi, Mitani, Naoji, Yoshino, Kenji, Ikari, Tetsuo, Nakanishi, Hisayuki, Chichibu, Shigefusa F.

Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics

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Crystal Growth of High Purity AgIn(S x Se 1-x ) 2 Single Crystals von Yoshino, Kenji, Mitani, Naoji, Sugiyama, Mutsumi, Chichibu, Shigefusa, Nakanishi, Hisayuki, Ikari, Tetsuo

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3

Optical and electrical properties of AgIn(SSe) 2 crystals von Yoshino, Kenji, Mitani, Naoji, Sugiyama, Mutsumi, Chichibu, Shigefusa F, Komaki, Hironori, Ikari, Tetsuo

Veröffentlicht in Physica. B, Condensed matter

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APPARATUS FOR PRODUCING SINGLE CRYSTAL AND METHOD FOR PRODUCING SINGLE CRYSTAL von MITANI NAOJI

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METHOD FOR STOPPING ROTATION OF CRYSTAL AND APPARATUS FOR STOPPING ROTATION OF CRYSTAL von MITANI NAOJI

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APPARATUS FOR PRODUCING SINGLE CRYSTAL AND METHOD FOR PRODUCING SINGLE CRYSTAL von MITANI NAOJI

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7

Halbleitereinkristallproduktionsvorrichtung von Suda, Ayumi, Mitani, Naoji

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Optical properties of high-quality CuGaSe sub(2) epitaxial layers examined by piezoelectric photoacoustic spectroscopy von Yoshino, Kenji, Mitani, Naoji, Ikari, Tetsuo, Fons, Paul J, Niki, Shigeru, Yamada, Akimasa

Veröffentlicht in Solar energy materials and solar cells

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9

Optical properties of high-quality CuGaSe2 epitaxial layers examined by piezoelectric photoacoustic spectroscopy von YOSHINO, Kenji, MITANI, Naoji, IKARI, Tetsuo, FONS, Paul J, NIKI, Shigeru, YAMADA, Akimasa

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SEMICONDUCTOR SINGLE CRYSTAL PRODUCTION APPARATUS von MITANI NAOJI, SUDA AYUMI

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Halbleitereinkristallproduktionsvorrichtung von MITANI, NAOJI, SUDA, AYUMI

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SEMICONDUCTOR SINGLE CRYSTAL MANUFACTURING APPARATUS von MITANI NAOJI, SUDA AYUMI

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Optical properties of high-quality CuGaSe 2 epitaxial layers examined by piezoelectric photoacoustic spectroscopy von Yoshino, Kenji, Mitani, Naoji, Ikari, Tetsuo, Fons, Paul J, Niki, Shigeru, Yamada, Akimasa

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Position measuring method von MITANI NAOJI, KIHARA AYUMI, HAYASHIDA TOSHIO

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Position measuring method von Hayashida, Toshio, Mitani, Naoji, Kihara, Ayumi

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Position measuring device and position measuring method in semiconductor single crystal manufacturing device von MITANI NAOJI, KIHARA AYUMI, HAYASHIDA TOSHIO

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17

Position measuring device and position measuring method in semiconductor single crystal manufacturing device von Hayashida, Toshio, Kihara, Ayumi, Mitani, Naoji

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Positionsmessverfahren von Kihara, Ayumi, Hayashida, Toshio, Mitani, Naoji

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Optical and electrical properties of AgIn(SSe)2 crystals von YOSHINO, Kenji, MITANI, Naoji, SUGIYAMA, Mutsumi, CHICHIBU, Shigefusa F, KOMAKI, Hironori, IKARI, Tetsuo

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SINGLE CRYSTAL PULLING APPARATUS von UMEKI TOSHIRO, MITANI NAOJI, HAYASHI KENGO

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Optical Properties of AgIn(S y Se 1-y ) 2 von Sugiyama, Mutsumi, Mitani, Naoji, Yoshino, Kenji, Ikari, Tetsuo, Nakanishi, Hisayuki, Chichibu, Shigefusa F.

Crystal Growth of High Purity AgIn(S x Se 1-x ) 2 Single Crystals von Yoshino, Kenji, Mitani, Naoji, Sugiyama, Mutsumi, Chichibu, Shigefusa, Nakanishi, Hisayuki, Ikari, Tetsuo

Optical and electrical properties of AgIn(SSe) 2 crystals von Yoshino, Kenji, Mitani, Naoji, Sugiyama, Mutsumi, Chichibu, Shigefusa F, Komaki, Hironori, Ikari, Tetsuo

APPARATUS FOR PRODUCING SINGLE CRYSTAL AND METHOD FOR PRODUCING SINGLE CRYSTAL von MITANI NAOJI

METHOD FOR STOPPING ROTATION OF CRYSTAL AND APPARATUS FOR STOPPING ROTATION OF CRYSTAL von MITANI NAOJI

APPARATUS FOR PRODUCING SINGLE CRYSTAL AND METHOD FOR PRODUCING SINGLE CRYSTAL von MITANI NAOJI

Halbleitereinkristallproduktionsvorrichtung von Suda, Ayumi, Mitani, Naoji

Optical properties of high-quality CuGaSe sub(2) epitaxial layers examined by piezoelectric photoacoustic spectroscopy von Yoshino, Kenji, Mitani, Naoji, Ikari, Tetsuo, Fons, Paul J, Niki, Shigeru, Yamada, Akimasa

Optical properties of high-quality CuGaSe2 epitaxial layers examined by piezoelectric photoacoustic spectroscopy von YOSHINO, Kenji, MITANI, Naoji, IKARI, Tetsuo, FONS, Paul J, NIKI, Shigeru, YAMADA, Akimasa

SEMICONDUCTOR SINGLE CRYSTAL PRODUCTION APPARATUS von MITANI NAOJI, SUDA AYUMI

Halbleitereinkristallproduktionsvorrichtung von MITANI, NAOJI, SUDA, AYUMI

SEMICONDUCTOR SINGLE CRYSTAL MANUFACTURING APPARATUS von MITANI NAOJI, SUDA AYUMI

Optical properties of high-quality CuGaSe 2 epitaxial layers examined by piezoelectric photoacoustic spectroscopy von Yoshino, Kenji, Mitani, Naoji, Ikari, Tetsuo, Fons, Paul J, Niki, Shigeru, Yamada, Akimasa

Position measuring method von MITANI NAOJI, KIHARA AYUMI, HAYASHIDA TOSHIO

Position measuring method von Hayashida, Toshio, Mitani, Naoji, Kihara, Ayumi

Position measuring device and position measuring method in semiconductor single crystal manufacturing device von MITANI NAOJI, KIHARA AYUMI, HAYASHIDA TOSHIO

Position measuring device and position measuring method in semiconductor single crystal manufacturing device von Hayashida, Toshio, Kihara, Ayumi, Mitani, Naoji

Positionsmessverfahren von Kihara, Ayumi, Hayashida, Toshio, Mitani, Naoji

Optical and electrical properties of AgIn(SSe)2 crystals von YOSHINO, Kenji, MITANI, Naoji, SUGIYAMA, Mutsumi, CHICHIBU, Shigefusa F, KOMAKI, Hironori, IKARI, Tetsuo

SINGLE CRYSTAL PULLING APPARATUS von UMEKI TOSHIRO, MITANI NAOJI, HAYASHI KENGO

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