Universal Digital Probe Electrometer for Testing Semiconductor Wafers von Zharin, A. L., Mikitsevich, U. A., Svistun, A. I., Pantsialeyeu, K. U.

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Intelligent Sensor for Measurement Systems with Sinusoidal Excitation Response von Mikitsevich, U. A., Svistun, A. I., Samarina, A. V., Pantsialeyeu, K. U., Zharin, A. L.

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Charge-Sensitive Technique for Deformation Processes’ Study von Pantsialeyeu, K. U., Mikitsevich, U. A., Svistun, A. I., Vorobey, R. I., Gusev, O. K., Zharin, A. L.

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DESIGN OF THE CONTACT POTENTIALS DIFFERENCE PROBES von Pantsialeyeu, K. U., Mikitsevich, U. A., Zharin, A. L.

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Surface Electric Potential Measurement with a Static Probe von Vorobey, R. I., Gusev, O. K., Zharin, A. I., Mikitsevich, V. A., Pantsialeyeu, K. U., Samarina, A. V., Svistun, A. I., Tyavlovsky, A. K., Tyavlovsky, K. L.

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