-
1
-
2
-
3
-
4
-
5
Dose-Rate Sensitivity of 65-nm MOSFETs Exposed to Ultrahigh Doses
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
VolltextArtikel -
6
-
7
A 65 nm Rad-Hard Bandgap Voltage Reference for LHC Environment
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
VolltextArtikel -
8
-
9
-
10
-
11
Uncountably many exotic $\mathbf{R}^4$'s in standard 4-space
Veröffentlicht in Journal of differential geometry
VolltextArtikel -
12
Uncountably many exotic \mathbf{R}^4's in standard 4-space
Veröffentlicht in Journal of differential geometry
VolltextArtikel -
13
Cross-current leaching of indium from end-of-life LCD panels
Veröffentlicht in Waste management (Elmsford)
VolltextArtikel -
14
-
15
-
16
-
17
-
18
-
19
-
20