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    Electron beam induced current assessment of doped and diffused junctions in epitaxial Cd xHg 1−xTe

    Electron beam induced current assessment of doped and diffused junctions in epitaxial Cd xHg 1−xTe von Hastings, M.P., Maxey, C.D., Matthews, B.E., Metcalfe, N.E., Capper, P., Jones, C.L., Gale, I.G.

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    Electron beam induced current assessment of doped and diffused junctions in epitaxial CdxHg1-xTe

    Electron beam induced current assessment of doped and diffused junctions in epitaxial CdxHg1-xTe von HASTINGS, M. P, MAXEY, C. D, MATTHEWS, B. E, METCALFE, N. E, CAPPER, P, JONES, C. L, GALE, I. G

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