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X-ray broadband Ni/SiC multilayers: improvement with W barrier layers
Veröffentlicht in Optics express
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Imaging and quality assessment of high-harmonic focal spots
Veröffentlicht in Optics letters
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Characterization of subnanometric layers by grazing incidence X-ray reflectometry
Veröffentlicht in Thin solid films
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Adaptive shaping of a focused intense laser beam into a doughnut mode
Veröffentlicht in Optics communications
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