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Three state-of-the-art methods for condition monitoring
von
Grimmelius, H.T.
,
Meiler, P.P.
,
Maas, H.L.M.M.
,
Bonnier, B.
,
Grevink, J.S.
,
van Kuilenburg, R.F.
Veröffentlicht in
IEEE transactions on industrial electronics (1982)
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The Delft test system
von
Meiler, P.P
,
van de Goor, A.J
Veröffentlicht in
Microprocessing and microprogramming
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Sd College Edition Journals Collection - Physical Sciences [Scps]
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