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    From Atoms and Molecules to Information and Knowledge: New Driving Forces in Manufacturing

    From Atoms and Molecules to Information and Knowledge: New Driving Forces in Manufacturing von Meieran, E.S.


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    Tagungsbericht

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  2. 2
    Analysis technology for VLSI fabrication

    Analysis technology for VLSI fabrication von Meieran, E.S., Flinn, P.A., Carruthers, J.R.

    Veröffentlicht in Proceedings of the IEEE

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  3. 3
    Erratum: High-Intensity Transmission X-Ray Topography of Homogeneously Bent Crystals

    Erratum: High-Intensity Transmission X-Ray Topography of Homogeneously Bent Crystals von Meieran, E.S., Blech, I.A.

    Veröffentlicht in Journal of applied physics

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  4. 4
    Intelligent manufacturing systems

    Intelligent manufacturing systems von Meieran, E.S.

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  5. 5
    High-resolution SEM observation of semiconductor device cross-sections

    High-resolution SEM observation of semiconductor device cross-sections von Meieran, E.S., Kamins, T.I.

    Veröffentlicht in Solid-state electronics

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  6. 6
    Growth-related surface features on BeO crystals revealed by electron microscopy

    Growth-related surface features on BeO crystals revealed by electron microscopy von Newkirk, H. W., Smith, D. K., Meieran, E. S., Mattern, D. A.

    Veröffentlicht in Journal of materials science

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