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The role of cleaning conditions and epitaxial layer structure on reliability of Sc 2O 3 and MgO passivation on AlGaN/GaN HEMTS
von
Luo, B
,
Mehandru, R.M
,
Kim, Jihyun
,
Ren, F
,
Gila, B.P
,
Onstine, A.H
,
Abernathy, C.R
,
Pearton, S.J
,
Fitch, R.C
,
Gillespie, J
,
Dellmer, R
,
Jenkins, T
,
Sewell, J
,
Via, D
,
Crespo, A
Veröffentlicht in
Solid-state electronics
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Sd College Edition Journals Collection - Physical Sciences [Scps]
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