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Identifying data offsets using binary masks
von
Bay John William
,
Cicero Thomas Paul
,
Medved Patrick Nicholas
,
Hussain Syed Fouad
,
Allman Jeffrey Michael
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Identifying Data Offsets Using Binary Masks
von
Bay John William
,
Cicero Thomas Paul
,
Medved Patrick Nicholas
,
Hussain Syed Fouad
,
Allman Jeffrey Michael
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Patent
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CROSS-ADDRESS SPACE OFFLOADING OF MULTIPLE CLASS WORK ITEMS
von
Duminy Frederic Armand Honore
,
Lowry Janet Pauline Eva
,
Gujja Sai Swetha
,
Medved Patrick Nicholas
,
Nayberg Howard Israel
,
Harrington Dean C
,
Srikantham Sainaga Kishore
,
Pringle Jammie Lee
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Patent
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Esp@Cenet
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