Suchergebnisse - Mclaurin, Teresa

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TAPS all over my chips - position statement von MCLAURIN, Teresa L

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The DFT challenges and solutions for the ARM® Cortex™-A15 Microprocessor von McLaurin, T., Frederick, F., Slobodnik, R.

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On IEEE P1500's Standard for Embedded Core Test von Marinissen, Erik Jan, Kapur, Rohit, Lousberg, Maurice, Mclaurin, Teresa, Ricchetti, Mike, Zorian, Yervant

Veröffentlicht in Journal of electronic testing

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Are Design for Debug (DFD) Features that are Put in Reuse Cores Sufficient for Silicon Debug? - position statement von McLaurin, T.L.

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Design for test features of the ARM clock control macro von Frederick, F., McLaurin, T.

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6

Enhanced testing of clock faults von McLaurin, T.L., Slobodnik, R., Kun-Han Tsai, Keim, A.

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7

Partial scan cell von McLaurin Teresa Louise

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8

Latch circuitry for memory applications von Slobodnik, Richard, McLaurin, Teresa Louise, Chong, Yew Keong, Chen, Andy Wangkun, Frederick, Frank David

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9

PARTIAL SCAN CELL von MCLAURIN TERESA LOUISE

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Partial Scan Cell von Teresa Louise McLaurin

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INTER-DIE CONNECTION WITHIN AN INTEGRATED CIRCUIT FORMED OF A STACK OF CIRCUIT DIES von MCLAURIN TERESA LOUISE

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Latch Circuitry for Memory Applications von Slobodnik, Richard, McLaurin, Teresa Louise, Chong, Yew Keong, Chen, Andy Wangkun, Frederick, Frank David

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Latch circuitry for memory applications von Slobodnik, Richard, McLaurin, Teresa Louise, Chong, Yew Keong, Chen, Andy Wangkun, Frederick, Frank David

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A methodology for testing one-hot transmission gate multiplexers von McLaurin, T.L., Frederick, F., Slobodnik, R.

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15

The testability features of the MCF5407 containing the 4th generation ColdFire(R) microprocessor core von McLaurin, T.L., Frederick, F.

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INTER-DIE CONNECTION WITHIN AN INTEGRATED CIRCUIT FORMED OF A STACK OF CIRCUIT DIES von MCLAURIN, TERESA, LOUISE

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Test development for a third-version ColdFire microprocessor von Crouch, A.L., Mateja, M., McLaurin, T.L., Potter, J.C., Tran, D.

Veröffentlicht in IEEE design & test of computers

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Latch Circuitry for Memory Applications von Slobodnik, Richard, McLaurin, Teresa Louise, Chong, Yew Keong, Chen, Andy Wangkun, Frederick, Frank David

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Latch integrated circuitry for memory applications and method for manufacturing the same von CHONG, YEW KEONG, MCLAURIN, TERESA LOUISE, FREDERICK, FRANK DAVID, SLOBODNIK, RICHARD, CHEN, ANDY WANGKUN

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Scan chain cell with delay testing capability von MCLAURIN TERESA LOUISE

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TAPS all over my chips - position statement von MCLAURIN, Teresa L

The DFT challenges and solutions for the ARM® Cortex™-A15 Microprocessor von McLaurin, T., Frederick, F., Slobodnik, R.

On IEEE P1500's Standard for Embedded Core Test von Marinissen, Erik Jan, Kapur, Rohit, Lousberg, Maurice, Mclaurin, Teresa, Ricchetti, Mike, Zorian, Yervant

Are Design for Debug (DFD) Features that are Put in Reuse Cores Sufficient for Silicon Debug? - position statement von McLaurin, T.L.

Design for test features of the ARM clock control macro von Frederick, F., McLaurin, T.

Enhanced testing of clock faults von McLaurin, T.L., Slobodnik, R., Kun-Han Tsai, Keim, A.

Partial scan cell von McLaurin Teresa Louise

Latch circuitry for memory applications von Slobodnik, Richard, McLaurin, Teresa Louise, Chong, Yew Keong, Chen, Andy Wangkun, Frederick, Frank David

PARTIAL SCAN CELL von MCLAURIN TERESA LOUISE

Partial Scan Cell von Teresa Louise McLaurin

INTER-DIE CONNECTION WITHIN AN INTEGRATED CIRCUIT FORMED OF A STACK OF CIRCUIT DIES von MCLAURIN TERESA LOUISE

Latch Circuitry for Memory Applications von Slobodnik, Richard, McLaurin, Teresa Louise, Chong, Yew Keong, Chen, Andy Wangkun, Frederick, Frank David

Latch circuitry for memory applications von Slobodnik, Richard, McLaurin, Teresa Louise, Chong, Yew Keong, Chen, Andy Wangkun, Frederick, Frank David

A methodology for testing one-hot transmission gate multiplexers von McLaurin, T.L., Frederick, F., Slobodnik, R.

The testability features of the MCF5407 containing the 4th generation ColdFire(R) microprocessor core von McLaurin, T.L., Frederick, F.

INTER-DIE CONNECTION WITHIN AN INTEGRATED CIRCUIT FORMED OF A STACK OF CIRCUIT DIES von MCLAURIN, TERESA, LOUISE

Test development for a third-version ColdFire microprocessor von Crouch, A.L., Mateja, M., McLaurin, T.L., Potter, J.C., Tran, D.

Latch Circuitry for Memory Applications von Slobodnik, Richard, McLaurin, Teresa Louise, Chong, Yew Keong, Chen, Andy Wangkun, Frederick, Frank David

Latch integrated circuitry for memory applications and method for manufacturing the same von CHONG, YEW KEONG, MCLAURIN, TERESA LOUISE, FREDERICK, FRANK DAVID, SLOBODNIK, RICHARD, CHEN, ANDY WANGKUN

Scan chain cell with delay testing capability von MCLAURIN TERESA LOUISE

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