Treffer 1 - 14 von 14 für Suche 'McNames, James N', Suchdauer: 1,17s Treffer weiter einschränken
  1. 1
    Pattern detection for integrated circuit substrates

    Pattern detection for integrated circuit substrates von Whitefield, Bruce J, Rudolph, Paul J, McNames, James N, Moon, Byungsool

    Volltext bestellen
    Patent

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  2. 2
    Pattern detection for integrated circuit substrates

    Pattern detection for integrated circuit substrates von MOON BYUNGSOOL, WHITEFIELD BRUCE J, RUDOLPH PAUL J, MCNAMES JAMES N

    Volltext bestellen
    Patent

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  3. 3
    Pattern component analysis and manipulation

    Pattern component analysis and manipulation von Whitefield, Bruce J, Abercrombie, David A, Turner, David R, McNames, James N

    Volltext bestellen
    Patent

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  4. 4
    Pattern component analysis and manipulation

    Pattern component analysis and manipulation von TURNER DAVID R, WHITEFIELD BRUCE J, ABERCROMBIE DAVID A, MCNAMES JAMES N

    Volltext bestellen
    Patent

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  5. 5
    Pattern detection for integrated circuit substrates

    Pattern detection for integrated circuit substrates von MOON BYUNGSOOL, WHITEFIELD BRUCE J, RUDOLPH PAUL J, MCNAMES JAMES N

    Volltext bestellen
    Patent

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  6. 6
    Parametric outlier detection

    Parametric outlier detection von TURNER DAVID R, WHITEFIELD BRUCE J, ABERCROMBIE DAVID A, MCNAMES JAMES N

    Volltext bestellen
    Patent

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  7. 7
    Parametric outlier detection

    Parametric outlier detection von Whitefield, Bruce J, Abercrombie, David A, Turner, David R, McNames, James N

    Volltext bestellen
    Patent

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  8. 8
    Pattern component analysis and manipulation

    Pattern component analysis and manipulation von TURNER DAVID R, WHITEFIELD BRUCE J, ABERCROMBIE DAVID A, MCNAMES JAMES N

    Volltext bestellen
    Patent

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  9. 9
    Parametric outlier detection

    Parametric outlier detection von ABRCROMBIE DAVID A, TURNER DAVID R, WHITEFIELD BRUCE J, MCNAMES JAMES N

    Volltext bestellen
    Patent

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  10. 10
    Statistical decision system

    Statistical decision system von DAASCH W. ROBERT, BOCKELMAN DANIEL R, COTA KEVIN, MADGE ROBERT J, MCNAMES JAMES N, SUGASAWARA EMERY

    Volltext bestellen
    Patent

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  11. 11
    Statistical decision system

    Statistical decision system von Madge, Robert J, Sugasawara, Emery, Daasch, W. Robert, McNames, James N, Bockelman, Daniel R, Cota, Kevin

    Volltext bestellen
    Patent

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  12. 12
    Test limits based on position

    Test limits based on position von DAASCH W. ROBERT, BOCKELMAN DANIEL R, COTA KEVIN, MADGE ROBERT J, MCNAMES JAMES N, SUGASAWARA EMERY

    Volltext bestellen
    Patent

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  13. 13
    Test limits based on position

    Test limits based on position von Madge, Robert J, Sugasawara, Emery, Daasch, W. Robert, McNames, James N, Bockelman, Daniel R, Cota, Kevin

    Volltext bestellen
    Patent

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  14. 14
    Using Portable Transducers to Measure Tremor Severity

    Using Portable Transducers to Measure Tremor Severity von Elble, Rodger J., McNames, James


    Volltext
    Artikel

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:

Suchwerkzeuge: