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Comparison of single event phenomena for front/back irradiations
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Single-event destructive failure in a bipolar ASIC
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Single-event destructive failure in a bipolar ASIC
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Analysis of single event effects at grazing angle [CMOS SRAMs]
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Charge collection in submicron CMOS/SOI technology
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Practical approach to ion track energy distribution
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Low dose rate proton irradiation of quartz crystal resonators
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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