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A Peeling Approach for Integrated Manufacturing of Large Monolayer h‑BN Crystals
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Integrated Wafer Scale Growth of Single Crystal Metal Films and High Quality Graphene
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Ni/Au contacts to corundum α-Ga2O3
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
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Defect structures in (001) zincblende GaN/3C-SiC nucleation layers
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Dislocations in AlGaN: Core Structure, Atom Segregation, and Optical Properties
Veröffentlicht in Nano letters
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Characterisation of InGaN by Photoconductive Atomic Force Microscopy
Veröffentlicht in Materials
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Thermal stress modelling of diamond on GaN/III-Nitride membranes
Veröffentlicht in Carbon
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X-ray diffraction analysis of cubic zincblende III-nitrides
Veröffentlicht in Journal of physics. D, Applied physics
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Atomic scale observation of threading dislocations in α-Ga2O3
Veröffentlicht in AIP advances
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