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    Towards Automatic Lamella Thinning Using Live Thickness Measurements and Smart End-Point Detection

    Towards Automatic Lamella Thinning Using Live Thickness Measurements and Smart End-Point Detection von Volkenandt, Tobias, Perez-Willard, Fabian, Rauscher, Michael, Maria Anger, Pascal

    Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis

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    ZEISS Crossbeam - Advancing Capabilities in High Throughput 3D Analysis and Sample Preparation von Volkenandt, Tobias, Perez-Willard, Fabian, Rauscher, Michael, Maria Anger, Pascal

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