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A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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Hf-doped Ta2O5 stacks under constant voltage stress
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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Negative bias temperature instability in n-channel power VDMOSFETs
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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Seismic microzoning in Skopje, Macedonia
Veröffentlicht in Soil dynamics and earthquake engineering (1984)
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Seismic microzoning of Belgrade
Veröffentlicht in Soil dynamics and earthquake engineering (1984)
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Seismic microzoning of Štip in Macedonia
Veröffentlicht in Soil dynamics and earthquake engineering (1984)
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