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    Exploring Low-dimensional Carbon Materials by High-resolution Electron and Scanned Probe Microscopy

    Exploring Low-dimensional Carbon Materials by High-resolution Electron and Scanned Probe Microscopy von Meyer, Jannik C., Kotakoski, Jani, Argentero, Giacomo, Mangier, Clemens, Bayer, Bernhard, Kramberger-Kaplan, Christian, Eder, Franz, Hummel, Stefan, Elibol, Kenan, Mittelberger, Andreas

    Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis

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