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PL characterization of GaN nanolayer obtained by N ion implantation into Si3N4/GaAs
Veröffentlicht in Optical materials
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Ne–He bubble formation in co-implanted Si(111) substrates
Veröffentlicht in Thin solid films
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Synthesis of a GaN nanolayer on (001) GaAs by N ion implantation
Veröffentlicht in Thin solid films
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Evidence of C migration in the SiO2 to the SiO2/Si interface of C-implanted structures
Veröffentlicht in Thin solid films
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Propagation of misfit dislocations from AlN/Si interface into Si
Veröffentlicht in Journal of crystal growth
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