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Charge-Noise-Induced Dephasing in Silicon Hole-Spin Qubits
Veröffentlicht in Physical review letters
VolltextArtikel -
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Minimal Entanglement Witness from Electrical Current Correlations
Veröffentlicht in Physical review letters
VolltextArtikel -
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Charge-noise induced dephasing in silicon hole-spin qubits
Veröffentlicht in arXiv.org
VolltextArtikel -
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Optimal geometry of lateral GaAs and Si/SiGe quantum dots for electrical control of spin qubits
Veröffentlicht in arXiv.org
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