Suchergebnisse - Malandruccolo, Vezio | OPAC THWS

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Sensor Assembly with Interface Circuit Voltage Control von Malandruccolo, Vezio, Bettini, Luca

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Patent

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2

A new built-in screening methodology to achieve zero defects in the automotive environment von Malandruccolo, Vezio, Ciappa, Mauro, Rothleitner, Hubert, Fichtner, Wolfgang

Veröffentlicht in Microelectronics and reliability

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A new built-in screening methodology for Successive Approximation Register Analog to Digital Converters von Malandruccolo, Vezio, Ciappa, Mauro, Rothleitner, Hubert, Hommel, M., Fichtner, Wolfgang

Veröffentlicht in Microelectronics and reliability

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4

A New Built-In Defect-Based Testing Technique to Achieve Zero Defects in the Automotive Environment von Malandruccolo, Vezio, Ciappa, Mauro, Rothleitner, Hubert, Fichtner, Wolfgang

Veröffentlicht in Journal of electronic testing

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5

Microphone assembly with transducer sensitivity drift compensation and electrical circuit therefor von Dai, Weiwen, Niederberger, Mark, Malandruccolo, Vezio, Bettini, Luca

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Patent

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6

New on-chip screening of gate oxides smart power devices for automotive applications von Malandruccolo, V., Ciappa, M., Rothleitner, H., Fichtner, W.

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Microphone assembly with transducer sensitivity drift compensation and electrical circuit therefor von Dai, Weiwen, Niederberger, Mark, Malandruccolo, Vezio, Bettini, Luca

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8

MICROPHONE ASSEMBLY WITH TRANSDUCER SENSITIVITY DRIFT COMPENSATION AND ELECTRICAL CIRCUIT THEREFOR von Dai, Weiwen, Niederberger, Mark, Malandruccolo, Vezio, Bettini, Luca

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MICROPHONE ASSEMBLY WITH TRANSDUCER SENSITIVITY DRIFT COMPENSATION AND ELECTRICAL CIRCUIT THEREFOR von Dai, Weiwen, Niederberger, Mark, Malandruccolo, Vezio, Bettini, Luca

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10

Design and Experimental Characterization of a New Built-In Defect-Based Testing Technique to Achieve Zero Defects in the Automotive Environment von Malandruccolo, V, Ciappa, M, Rothleitner, H, Fichtner, W

Veröffentlicht in IEEE transactions on device and materials reliability

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