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Voltage Dependence of Supercapacitor Capacitance
Veröffentlicht in Metrology and Measurement systems
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Electro-ultrasonic spectroscopy of polymer-based thick film layers
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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Noise Measurement Setup for Quartz Crystal Microbalance
Veröffentlicht in Radioengineering
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Noise in piezoelectric ceramics at the low temperatures
Veröffentlicht in Radioengineering
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Ultrasonic Spectroscopy of Silicon Single Crystal
Veröffentlicht in Metrology and Measurement systems
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Spectral Analysis of EME Signal
Veröffentlicht in E-journal of Nondestructive Testing
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