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Role of two-dimensional electron gas (2DEG) in AlGaN/GaN high electron mobility transistor (HEMT) ON-state degradation
von
Syaranamual, G.J.
,
Sasangka, W.A.
,
Made, R.I.
,
Arulkumaran, S.
,
Ng, G.I.
,
Foo, S.C.
,
Gan, C.L.
,
Thompson, C.V.
Veröffentlicht in
Microelectronics and reliability
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2
Characterisation of defects generated during constant current InGaN-on-silicon LED operation
von
Made, R.I
,
Gao, Yu
,
Syaranamual, G.J.
,
Sasangka, W.A.
,
Zhang, L.
,
Nguyen, Xuan Sang
,
Tay, Y.Y.
,
Herrin, J.S.
,
Thompson, C.V.
,
Gan, C.L.
Veröffentlicht in
Microelectronics and reliability
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3
Effect of bonding pressure on the bond strengths of low temperature Ag-In bonds
von
Made, R.I.
,
Chee Lip Gan
,
Chengkuo Lee
,
Liling Yan
,
Aibin Yu
,
Seung Wook Yoon
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Tagungsbericht
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4
The DNA barcode of red fruit pandan (Pandanaceae) cultivar from Wamena, Papua Province, Indonesia based on matK gene
von
ZEBUA, LISYE IRIANA
,
TRI GUNAEDI
,
I MADE BUDI
,
NELLY LUNGA
Veröffentlicht in
Biodiversitas (Surakarta)
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