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Cu passivation for integration of gap-filling ultralow-k dielectrics
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Controlled cobalt recess for advanced interconnect metallization
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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Wet Cleaning of Molybdenum for Nano Interconnects
Veröffentlicht in ECS transactions
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Cu passivation for integration of gap-filling ultralow-k dielectrics
Veröffentlicht in Applied Physics Letters
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Wet Cleaning of Molybdenum for Nano Interconnects
Veröffentlicht in Meeting abstracts (Electrochemical Society)
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