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Midinfrared resonant magnetic nanostructures exhibiting a negative permeability
Veröffentlicht in Physical review letters
VolltextArtikel -
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Ellipsometric scatterometry for the metrology of sub-01-μm-linewidth structures
Veröffentlicht in Applied Optics
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Ellipsometric Scatterometry for the Metrology of Sub-0.1- num-Linewidth Structures
Veröffentlicht in Applied optics (2004)
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