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The magnetic-resonance force microscope: a new tool for high-resolution, 3-D, subsurface scanned probe imaging
von
Hammel, P.C.
,
Pelekhov, D.V.
,
Wigen, P.E.
,
Gosnell, T.R.
,
Midzor, M.M.
,
Roukes, M.L.
Veröffentlicht in
Proceedings of the IEEE
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The magnetic-resonance force microscope: A new tool for high-resolution, 3-D, subsurface scanned probe imaging: Spintronics technology
von
HAMMEL, P. Chris
,
PELEKHOV, Denis V
,
WIGEN, Philip E
,
GOSNELL, Timothy R
,
MIDZOR, Melissa M
,
ROUKES, Michael L
Veröffentlicht in
Proceedings of the IEEE
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Artikel
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Technology for fabrication of a micromagnet on a tip of a MFM/MRFM probe
von
Pelekhov, Denis V
,
Hammel, P. Chris
,
Nunes, Jr., Geoffrey
,
Midzor, Melissa M
,
Roukes, Michael
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Patent
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Technology for fabrication of a micromagnet on a tip of a MFM/MRFM probe
von
NUNES, JR. GEOFFREY
,
PELEKHOV DENIS V
,
MIDZOR MELISSA M
,
ROUKES MICHAEL
,
HAMMEL P. CHRIS
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Applications Of Scanning-Probe Techniques, E.g. Scanning Probemicroscopy [Spm]
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Ieee Electronic Library (Iel)
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Ingenta Connect
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Uspto Issued Patents
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Esp@Cenet
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