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LATERALLY DIFFUSED FIELD EFFECT TRANSISTOR IN SOI CONFIGURATION
von
Yan, Ran
,
Chang, Ming-Cheng
,
Merbeth, Thomas
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2
Method and structure for process limiting yield testing
von
Dersch, Uwe
,
Merbeth, Thomas
,
Mikalo, Ricardo P
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Short-flow test chip utilizing fast testing for defect density monitoring in 45nm
von
Karthikeyan, M.
,
Cote, W.
,
Medina, L.
,
Shiling, E.
,
Gasasira, A.
,
Henning, A.
,
Ferrante, W.
,
Craig, M.
,
Merbeth, T.
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Tagungsbericht
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4
VERFAHREN UND STRUKTUR ZUR PROZESSBESCHRÄNKENDEN PRODUKTIONSPRÜFUNG
von
Dersch, Uwe
,
Merbeth, Thomas
,
Mikalo, Ricardo P
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5
Methods of forming a gate-to-source/drain contact structure
von
McArdle, Timothy J
,
Aydin, Ömür
,
Xie, Ruilong
,
Mulfinger, George
,
Merbeth, Thomas
,
Holt, Judson R
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6
METHODS OF FORMING A GATE-TO-SOURCE/DRAIN CONTACT STRUCTURE
von
McArdle, Timothy J
,
Aydin, Ömür
,
Xie, Ruilong
,
Mulfinger, George
,
Merbeth, Thomas
,
Holt, Judson R
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7
Method and structure for process limiting yield testing
von
MERBETH, THOMAS
,
DERSCH, UWE
,
MIKALO, RICARDO P
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Method and structure for process limiting yield testing
von
MERBETH, THOMAS
,
DERSCH, UWE
,
MIKALO, RICARDO P
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Method and structure for process limiting yield testing
von
MERBETH, THOMAS
,
DERSCH, UWE
,
MIKALO, RICARDO P
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VERFAHREN UND STRUKTUR ZUR PROZESSBESCHRÄNKENDEN PRODUKTIONSPRÜFUNG
von
Dersch, Uwe
,
Merbeth, Thomas
,
Mikalo, Ricardo P
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Methods of forming a gate-to-source/drain contact structure
von
MERBETH, THOMAS
,
HOLT, JUDSON R
,
MULFINGER, GEORGE
,
XIE, RUILONG
,
MCARDLE, TIMOTHY J
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12
Methods of forming a gate-to-source/drain contact structure
von
MERBETH, THOMAS
,
HOLT, JUDSON R
,
MULFINGER, GEORGE
,
XIE, RUI-LONG
,
AYDIN, OMUR
,
MCARDLE, TIMOTHY J
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Patent
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Esp@Cenet
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Ieee Electronic Library (Iel) Conference Proceedings
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Ieee Power & Energy Library
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Ieee Electronic Library (Iel)
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