Suchergebnisse - MEEOO ONG | OPAC THWS

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Auto resume of irregular erase stoppage of a memory sector von ONG WEI-KENT, ONG MEEOO

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Auto Resume of Irregular Erase Stoppage of a Memory Sector von ONG WEI-KENT, ONG MEEOO

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Apparatus and method for smart VCC trip point design for testability von MEEOO ONG, CHING-KOOI HOR, BOON-WENG TEOH

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APPARATUS AND METHOD FOR SMART VCC TRIP POINT DESIGN FOR TESTABILITY von MEEOO ONG, CHING-KOOI HOR, BOON-WENG TEOH

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Memory Access Bases on Erase Cycle Time von LAU SIE-WEI HENRY, ONG WEI-KENT, YUUSUKE OGIWARA, ONG MEEOO

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Apparatus and method for smart VCC trip point design for testability von MEEOO ONG, CHING-KOOI HOR, BOON-WENG TEOH

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APPARATUS AND METHOD FOR SMART VCC TRIP POINT DESIGN FOR TESTABILITY von MEEOO ONG, CHING-KOOI HOR, BOON-WENG TEOH

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Charge retention for flash memory by manipulating the program data methodology von CH'NG SHEAU-YANG, HOO KIAN-HUAT, ONG MEEOO

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9

Design for test (DFT) read speed through transition detector in built-in self-test (BIST) sort von CH'NG SHEAU-YANG, ONG WEI-KENT, LAU SIE WEI HENRY, TEOH BOON-WENG, ONG MEEOO, BEH JIH HONG

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10

DESIGN FOR TEST (DFT) READ SPEED THROUGH TRANSITION DETECTOR IN BUILT-IN SELF-TEST (BIST) SORT von TEOH, BOON-WENG, ONG, WEI-KENT, ONG, MEEOO, BEH, JIH, HONG, CH'NG, SHEAU-YANG, LAU, SIE WEI, HENRY

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DESIGN FOR TEST (DFT) READ SPEED THROUGH TRANSITION DETECTOR IN BUILT-IN SELF-TEST (BIST) SORT von TEOH, BOON-WENG, CH'NG,, SHEAU-YANG, ONG, WEI-KENT, ONG, MEEOO, BEH, JIH, HONG, LAU, SIE WEI, HENRY

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DESIGN FOR TEST (DFT) READ SPEED THROUGH TRANSITION DETECTOR IN BUILT-IN SELF-TEST (BIST) SORT von CH'NG SHEAU-YANG, ONG WEI-KENT, LAU SIE WEI HENRY, TEOH BOON-WENG, ONG MEEOO, BEH JIH HONG

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CHARGE RETENTION FOR FLASH MEMORY BY MANIPULATING THE PROGRAM DATA METHODOLOGY von CH'NG SHEAU-YANG, HOO KIAN-HUAT, ONG MEEOO

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