Suchergebnisse - MCLAURIN, Teresa L | OPAC THWS

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TAPS all over my chips - position statement von MCLAURIN, Teresa L

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Are Design for Debug (DFD) Features that are Put in Reuse Cores Sufficient for Silicon Debug? - position statement von McLaurin, T.L.

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3

Enhanced testing of clock faults von McLaurin, T.L., Slobodnik, R., Kun-Han Tsai, Keim, A.

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4

A methodology for testing one-hot transmission gate multiplexers von McLaurin, T.L., Frederick, F., Slobodnik, R.

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5

The testability features of the MCF5407 containing the 4th generation ColdFire(R) microprocessor core von McLaurin, T.L., Frederick, F.

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6

Test development for a third-version ColdFire microprocessor von Crouch, A.L., Mateja, M., McLaurin, T.L., Potter, J.C., Tran, D.

Veröffentlicht in IEEE design & test of computers

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On-the-shelf core pattern methodology for ColdFire(R) microprocessor cores von McLaurin, T.L., Potter, J.C.

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Wrapper serial scan chain functional segmentation von MCLAURIN TERESA L

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Testing memory access signal connections von FREDERICK FRANK D, MCLAURIN TERESA L

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Method and apparatus for testing an integrated circuit von CROUCH ALFRED L, TIETJEN DONALD L, MASON KRISTEN L, MCLAURIN TERESA L

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Method and apparatus for testing an integrated circuit von McLaurin, Teresa L, Tietjen, Donald L, Crouch, Alfred L, Mason, Kristen L

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