Suchergebnisse - MCGLOTHLIN RUDYE | OPAC THWS

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Scanning capacitance spectroscopy: An analytical technique for pn-junction delineation in Si devices von Edwards, Hal, McGlothlin, Rudye, San Martin, Richard, U, Elisa, Gribelyuk, Michael, Mahaffy, Rachel, Ken Shih, C., List, R. Scott, Ukraintsev, Vladimir A.

Veröffentlicht in Applied physics letters

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Vertical metrology using scanning-probe microscopes: Imaging distortions and measurement repeatability von Edwards, Hal, McGlothlin, Rudye, U, Elisa

Veröffentlicht in Journal of applied physics

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Vertical metrology using scanning-probe microscopes: Imaging distortions and measurement repeatability von Edwards, Hal, McGlothlin, Rudye, U, Elisa

Veröffentlicht in Computer standards and interfaces

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4

Soft shutdown for isolated drivers von Mills Michael J, Santos Paulo, McGlothlin Rudye, Duffy Michael L, Sabolcik Ross, Karalar Tufan, Horvath András Vince

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5

SOFT SHUTDOWN FOR ISOLATED DRIVERS von MCGLOTHLIN RUDYE, MILLS MICHAEL J, SANTOS PAULO, KARALAR TUFAN, SABOLCIK ROSS, DUFFY MICHAEL L, HORVATH ANDRÁS VINCE

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6

SOFT SHUTDOWN FOR ISOLATED DRIVERS von TUFAN KARALAR, PAULO SANTOS, MICHAEL J. MILLS, RUDYE MCGLOTHLIN, ROSS SABOLCIK, ANDRAS VINCE HORVATH, MICHAEL L. DUFFY

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