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Spectroscopic and Microscopic Correlation of SRO-HFCVD Films on Quartz and Silicon
Veröffentlicht in Crystals (Basel)
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Electroluminescence in BiFeO3 and the role of defects
Veröffentlicht in Materials science in semiconductor processing
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Spectroscopic Properties of Si-nc in SiOx Films Using HFCVD
Veröffentlicht in Nanomaterials (Basel, Switzerland)
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Characterization of Al0.047Ga0.953Sb layers grown on GaSb using reciprocal space maps
Veröffentlicht in Materials letters
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Optical and Morphological Analysis of c-Si/PSi and c-Si/PSi/MWCNT/SiOx Heterostructures
Veröffentlicht in Proceedings
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