-
1
-
2
-
3
-
4
-
5
Characterization and aluminum metallization of a parylene AF-4 surface
Veröffentlicht in Applied surface science
VolltextArtikel -
6
-
7
-
8
-
9
-
10
-
11
Thermal stability of Al/barrier/TiSi sub(x) multilayer structures
Veröffentlicht in Thin solid films
VolltextArtikel -
12
-
13
-
14
ChemInform Abstract: A New Process for Depositing Tungsten Nitride Thin Films
Veröffentlicht in ChemInform
VolltextArtikel -
15