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Charge-based capacitance measurement for bias-dependent capacitance
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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A novel simple CBCM method free from charge injection-induced errors
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
VolltextArtikel -
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An endurance evaluation method for flash EEPROM
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
VolltextArtikel -
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