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Physic-topological (electrical) model of a junction field effect transistor, taking into account the degradation of operational characteristics under the influence of penetrating r...
von
Lovshenko, Ivan
,
Khanko, Veranika
,
Stempitsky, Viktor
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Computer simulation of the operational characteristics of a microstrip silicon detector
von
Dao, Ha Dinh
,
Lovshenko, Ivan
,
Roshchenko, Polina
,
Shandarovich, Veranika
,
Stempitsky, Viktor
,
Tran, Tuan Trung
Veröffentlicht in
Semiconductor science and technology
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