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Performance and Reliability Degradation of CMOS Image Sensors in Back-Side Illuminated Configuration
von
Vici, Andrea
,
Russo, Felice
,
Lovisi, Nicola
,
Marchioni, Aldo
,
Casella, Antonio
,
Irrera, Fernanda
Veröffentlicht in
IEEE journal of the Electron Devices Society
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On Border Traps in Back-Side-Illuminated CMOS Image Sensor Oxides
von
Vici, Andrea
,
Russo, Felice
,
Lovisi, Nicola
,
Irrera, Fernanda
Veröffentlicht in
IEEE transactions on electron devices
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Performance and Reliability Degradation of CMOS Image Sensors in Back-Side Illuminated Configuration
von
Vici, Andrea
,
Russo, Felice
,
Lovisi, Nicola
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Marchioni, Aldo
,
Casella, Antonio
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Irrera, Fernanda
Veröffentlicht in
IEEE JOURNAL OF THE ELECTRON DEVICES SOCIETY
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Gate Oxide Border Traps
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Ieee Power & Energy Library
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Ieee Electronic Library (Iel)
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Ieee Open Access Journals
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Doaj Directory Of Open Access Journals
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Ezb-Free-00999 Freely Available Ezb Journals
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Lirias (Ku Leuven Association)
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