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Polarization Selectivity in Vibrational Electron-Energy-Loss Spectroscopy
Veröffentlicht in Physical review letters
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Electron-Beam Mapping of Vibrational Modes with Nanometer Spatial Resolution
Veröffentlicht in Physical review letters
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Aberration‐corrected STEM for atomic‐resolution imaging and analysis
Veröffentlicht in Journal of microscopy (Oxford)
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Single atom identification by energy dispersive x-ray spectroscopy
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Individual heteroatom identification with X-ray spectroscopy
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Progress in Ultra-High Energy Resolution EELS
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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First-Principles Modeling of Vibrational Electron Energy Loss Spectra
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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Energy-Filtered High-Angle Dark Field Mapping of Ultra-Light Elements
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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Tuning High Order Geometric Aberrations in Quadrupole-Octupole Correctors
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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Using Nion Swift for Data Collection, Analysis and Display
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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Exploring Phonon Signals by High Energy / High Spatial Resolution EELS
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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SDD-EDS: Element Analysis of Nanostructures in TEM
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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Exploring new frontiers with the Nion aberration-corrected STEM
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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Band bending and surface defects in β -Ga2O3
Veröffentlicht in Applied physics letters
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19
Advances in Ultra-High Energy Resolution STEM-EELS
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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