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An Embedded All-Digital Circuit to Measure PLL Response
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Microstructure and reliability of copper interconnects
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New INSPIRE Program for SSCS Chapters [Society News]
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SSCS Chapter Chairs Gather at ISSCC 2024 [Society News]
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SSCS Chapter Chairs Gather at ISSCC 2023 [Society News]
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IEEE DL Palermo Visits San Diego SSCS Chapter [Chapters]
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De and Alon Present DL Seminars in San Diego [Chapters]
Veröffentlicht in IEEE solid state circuits magazine
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