Treffer
1 - 5
von
5
für Suche '
Lohr, Leonhard M.
'
Weiter zum Inhalt
VuFind
Zwischenablage:
0
in der Auswahl
(Voll)
Anmeldung über Ihre Einrichtung
Bootstrap
Reg_test
TUM
GatewayBayern
Rvk
reg_uni
Standard Theme
Mobile Theme
thws
Layout
Englisch
Deutsch
Sprache
OPAC
OPACplus
Stichwort
Titel
Verfasser
Schlagwort
Suchen
Erweitert
Suchergebnisse - Lohr, Leonhard M.
Treffer
1 - 5
von
5
für Suche '
Lohr, Leonhard M.
'
, Suchdauer: 0,41s
Treffer weiter einschränken
Sortieren
Relevanz
Nach Datum, absteigend
Verfasser
Titel
1
Nanoscale grating characterization using EUV scatterometry and soft x-ray scattering with plasma and synchrotron radiation
von
Lohr, Leonhard M
,
Ciesielski, Richard
,
Glabisch, Sven
,
Schröder, Sophia
,
Brose, Sascha
,
Soltwisch, Victor
Veröffentlicht in
Applied optics (2004)
Volltext
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
2
A new sample chamber for hybrid detection of scattering and fluorescence, using synchrotron radiation in the soft x-ray and extreme ultraviolet (EUV) spectral range
von
Ciesielski, Richard
,
Lohr, Leonhard M.
,
Herrero, Analía Fernández
,
Fischer, Andreas
,
Grothe, Alexander
,
Mentzel, Heiko
,
Scholze, Frank
,
Soltwisch, Victor
Veröffentlicht in
Review of scientific instruments
Volltext
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
3
Hybrid approach to reconstruct nanoscale grating dimensions using scattering and fluorescence with soft X-rays
von
Lohr, Leonhard M
,
Ciesielski, Richard
,
Truong, Vinh-Binh
,
Soltwisch, Victor
Volltext bestellen
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
4
Dataset for Hybrid Approach to Reconstruct Nanoscale Grating Dimensions using Scattering and Fluorescence with Soft X-rays
von
Lohr, Leonhard M.
,
Ciesielski, Richard
,
Truong, Vinh-Binh
,
Soltwisch, Victor
Volltext bestellen
Dataset
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
5
Hybrid approach to reconstruct nanoscale grating dimensions using scattering and fluorescence with soft X-rays
von
Lohr, Leonhard M
,
Ciesielski, Richard
,
Vinh-Binh Truong
,
Soltwisch, Victor
Veröffentlicht in
arXiv.org
Volltext
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
Suchwerkzeuge:
RSS-Feed abonnieren
Diese Suche als E-Mail versenden
Suche speichern
Zurück
Treffer weiter einschränken
Seite wird neu geladen, wenn Filter aktiviert oder ausgeschlossen wird.
Eingrenzen
Peer Reviewed
2 Treffer
2
Online Resources
5 Treffer
5
Format
Articles
4 Treffer
4
Datasets
1 Treffer
1
Zeitschriftentitel
Applied Optics
1 Treffer
1
Applied Optics. Optical Technology And Biomedical Optics
1 Treffer
1
Review Of Scientific Instruments
1 Treffer
1
Schlagworte
Soft X Rays
3 Treffer
3
Physical Sciences
2 Treffer
2
Science & Technology
2 Treffer
2
Synchrotron Radiation
2 Treffer
2
Synchrotrons
2 Treffer
2
X-Ray Scattering
2 Treffer
2
Chambers
1 Treffer
1
Extreme Ultraviolet Radiation
1 Treffer
1
Incidence Angle
1 Treffer
1
Instruments & Instrumentation
1 Treffer
1
Inverse Problems
1 Treffer
1
Markov Chains
1 Treffer
1
Measurement Methods
1 Treffer
1
Nanometrology
1 Treffer
1
Nanostructure
1 Treffer
1
Optics
1 Treffer
1
Physics
1 Treffer
1
Physics - Optics
1 Treffer
1
Physics, Applied
1 Treffer
1
Plasma Radiation
1 Treffer
1
Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Quelle
Proquest Central (Alumni)
1 Treffer
1
Proquest Central Uk/Ireland
1 Treffer
1
Proquest Central Essentials
1 Treffer
1
Proquest Central
1 Treffer
1
Proquest One Community College
1 Treffer
1
Proquest Central Korea
1 Treffer
1
Free E- Journals
1 Treffer
1
Arxiv.org
1 Treffer
1
Aip Digital Archive
1 Treffer
1
Datacite
1 Treffer
1
Optica Publishing Group Journals
1 Treffer
1
Aip Journals Complete
1 Treffer
1