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    Ultrafast silicon based photodetectors

    Ultrafast silicon based photodetectors von Buchal, Ch, Löken, M., Lipinsky, Th, Kappius, L., Mantl, S.


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    Combined depth profile analysis with SNMS, SIMS and XPS: Preferential sputtering and oxygen transport in binary metal oxide multilayer systems

    Combined depth profile analysis with SNMS, SIMS and XPS: Preferential sputtering and oxygen transport in binary metal oxide multilayer systems von Albers, Th, Neumann, M., Lipinsky, D., Wiedmann, L., Benninghoven, A.

    Veröffentlicht in Surface and interface analysis

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