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Impact of annealing on ALD Al2O3 gate dielectric for GaN MOS devices
Veröffentlicht in Physica status solidi. C
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Avalanche Breakdown Design Parameters in GaN
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
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Health insurance, risk attitudes, and household financial behavior
Veröffentlicht in Health economics
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Drift region optimization in high-voltage GaN MOS-gated HEMTs
Veröffentlicht in Physica status solidi. C
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Over 1000 V/30 mA operation GaN-on-Si MOSFETs fabricated on Si substrates
Veröffentlicht in Solid-state electronics
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