Quality control of lifetime drift effects von Lewitschnig, Horst, Sommeregger, Lukas

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Advanced Bayesian Estimation of Weibull Early Life Failure Distributions von Kurz, Daniel, Lewitschnig, Horst, Pilz, Jürgen

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Fractional Failures Sampling-An Alternative to Zero Failures Sampling Plans von Lewitschnig, Horst, Fanzott, Armin

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Advances on the Stress Interaction Model von Lewitschnig, Horst

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Flexible time reduction method for burn‐in of high‐quality products von Kurz, Daniel, Lewitschnig, Horst, Pilz, Juergen

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Monitoring Hierarchical Systems for Safety Assurance von Wotawa, Franz, Lewitschnig, Horst

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Spline‐Based Drift Analysis for the Reliability of Semiconductor Devices von Hofer, Vera, Nowak, Thomas, Lewitschnig, Horst

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Determination of tolerance limits for the reliability of semiconductor devices using longitudinal data von Hofer, Vera, Leitner, Johannes, Lewitschnig, Horst, Nowak, Thomas

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Decision-Theoretical Model for Failures Which are Tackled by Countermeasures von Kurz, Daniel, Lewitschnig, Horst, Pilz, Jurgen

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An advanced area scaling approach for semiconductor burn-in von Kurz, Daniel, Lewitschnig, Horst, Pilz, Jürgen

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Failure probability estimation with differently sized reference products for semiconductor burn-in studies von Kurz, Daniel, Lewitschnig, Horst, Pilz, Jürgen

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Weakness Monitors for Fail-Aware Systems von Granig, Wolfgang, Jakšić, Stefan, Lewitschnig, Horst, Mateis, Cristinel, Ničković, Dejan

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An Overview on Recent Advances in Statistical Burn-In Modeling for Semiconductor Devices von Kurz, Daniel, Lewitschnig, Horst, Pilz, Jürgen

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DETERMINING THE REMAINING USEFUL LIFE OF POWER MODULES von Di Nuzzo, Giovanni, Lewitschnig, Horst

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An Artificial Intelligence-Based Framework for Burn-in Reduction in the Semiconductor Manufacturing Industry von Ahmed, Ibrahim, Hosseinpour, Fatemeh, Baraldi, Piero, Zio, Enrico, Lewitschnig, Horst

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Early Lifetime Estimation for Automotive LIDAR Using Realistic L4 Usage Profiles von Innerwinkler, Pamela, Grubmüller, Stephanie, Lewitschnig, Horst, Mischinger-Rodzievicz, Marlies, Balaji, Nidhi

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Bestimmen der Verbleibenden Nutzungsdauer von Leistungsmodulen von Lewitschnig, Horst Johannes, Di Nuzzo, Giovanni

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