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Surface structure of sphalerite studied by medium energy ion scattering and XPS
Veröffentlicht in Surface science
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Interfacial layer formation in Gd2O3 films deposited directly on Si(0 0 1)
Veröffentlicht in Applied surface science
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Film thickness measurements of SiO2 by XPS
Veröffentlicht in Surface and interface analysis
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Depth profiling of ultrathin films using medium energy ion scattering
Veröffentlicht in Current applied physics
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Level structure of S 31 via S 32 ( p , d ) S 31
Veröffentlicht in Physical review. C
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Positron and electron backscattering from solids
Veröffentlicht in Physical review letters
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