Suchergebnisse - Leem, Choon Shik | OPAC THWS

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Interaction of itinerant electrons and spin fluctuations in electron-doped cuprates von Park, Seung Ryong, Morinari, Takao, Song, Dong Joon, Leem, Choon Shik, Kim, Chul, Choi, Sung Kyun, Choi, Kyujin, Kim, Jae Hoon, Schmitt, Felix, Mo, Sung Kwan, Lu, Dong Hui, Shen, Zhi-Xun, Eisaki, Hiroshi, Tohyama, Takami, Han, Jung Hoon, Kim, Changyoung

Veröffentlicht in Physical review. B, Condensed matter and materials physics

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APPARATUS FOR INSPECTING WAFER von LEEM Choon-Shik, JUNG Woo-Jin, JUN Chung-Sam

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Apparatus for measuring a semiconductor device von KIM, YEON JOONG, LEEM, CHOON SHIK

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Methods for monitoring semiconductor fabrication processes using polarized light von Leem Choon-Shik, Son Woong-Kyu, Kim Kwang-Hoon, Byun Jung-Hoon, Kim Deok-Yong, Moon Sung-Soo, Lee Ji-Hye, Chin Soo-Bok

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Apparatus and method for monitoring semiconductor fabrication processes using polarized light von BYUN JUNG-HOON, SON WOONG-KYU, KIM KWANG-HOON, LEEM CHOON-SHIK, KIM DEOK-YONG, MOON SUNG-SOO, LEE JI-HYE, CHIN SOO-BOK

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Apparatus for inspecting a wafer von JUN, CHUNG SAM, JUNG, WOO JIN, LEEM, CHOON SHIK

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INSPECTING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND OPERATING METHOD OF THE SAME von PARK, IL SUK, HONG, JI HUN, IHM, DONG CHUL, LEEM, CHOON SHIK

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8

METHODS AND APPARATUSES FOR MEASURING VALUES OF PARAMETERS OF INTEGRATED CIRCUIT DEVICES von JUNG WOO-JIN, SONG CHUL-GI, LEEM CHOON-SHIK, KIM DEOK-YONG, LEE JI-HYE, CHIN SOO-BOK

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METHOD OF MONITORING SEMICONDUCTOR FABRICATION PROCESS USING XPS von SONG CHUL-GI, LEEM CHOON-SHIK, KIM DEOK-YONG, SONG SANG-HO, LEE HO-YEOL, CHIN SOO-BOK

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10

Method and system of analyzing semiconductor structure von HWANG BYUNG HYUN, IHM DONG CHUL, KWON NAM YEONG, JUN CHUNG SAM, JO MI HEE, JOO HA YOUNG, KIM KWANG HOON, LEE EUN JOO, LEEM CHOON SHIK, PARK JIN WOO

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A METHOD OF MEASURING A SEMICONDUCTOR DEVICE, A SEMICONDUCTOR MEASUREMENT SYSTEM, AND A METHOD OF A SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME von LEE, JI HYE, CHIN, SOO BOK, LEEM, CHOON SHIK, KIM, DEOK YONG

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12

OPTICAL MEASURING METHODS AND APPARATUS von LEE, JI HYE, JUNG, WOO JIN, SONG, CHUL GI, CHIN, SOO BOK, LEEM, CHOON SHIK, KIM, DEOK YONG

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METHOD OF MONITORING A SEMICONDUCTOR FABRICATING PROCESS USING AN XPS ANALYZING von SONG, SANG HO, LEE, HO YEOL, SONG, CHUL GI, CHIN, SOO BOK, LEEM, CHOON SHIK, KIM, DEOK YONG

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APPARATUS OF MONITORING A PROCESS USING POARIZED LIGHT AND METHOD THEREOF von KIM, KWANG HOON, BYUN, JUNG HOON, SON, WOONG KYU, MOON, SUNG SOO, LEE, JI HYE, CHIN, SOO BOK, KIM, DEOK YONG, LEEM, CHOON SHIK

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