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Evolution and Current Status of Aluminum Metallization
Veröffentlicht in Journal of the Electrochemical Society
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Growth of borosilicate and borophosphosilicate films at low pressure and temperature
Veröffentlicht in Thin solid films
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Electromigration effects in aluminum alloy metallization
Veröffentlicht in Journal of electronic materials
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Aluminum alloy film deposition and characterization
Veröffentlicht in Thin solid films
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Effect of Redundant Microstructure on Electromigration-Induced Failure
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Methods for minimizing silicon regrowth in aluminum films
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Limitations on high-temperature processing of aluminum-copper metallization
Veröffentlicht in Proceedings of the IEEE
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FORMATION OF EPITAXIAL β-SiC FILMS ON SAPPHIRE
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Formation of the complement of an agglomerated film
Veröffentlicht in Solid-state electronics
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Behavior of Film Conductance during Vacuum Deposition
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Thin-Film CdS Diodes Heat Treated in Various Ambients
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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BARRIERS AT EVAPORATED METAL-POLYCRYSTALLINE CdS INTERFACES
Veröffentlicht in Applied physics letters
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