-
1
-
2
-
3
Monte Carlo simulation of impurity diffusion in thin-film diffusion barriers
Veröffentlicht in Journal of applied physics
VolltextArtikel -
4
-
5
Monte Carlo treatment of impurity diffusion in polycrystalline films
Veröffentlicht in Journal of applied physics
VolltextArtikel -
6
-
7
The measurement of boron at silicon wafer surfaces by neutron depth profiling
Veröffentlicht in Journal of applied physics
VolltextArtikel -
8
Phosphorus diffusion in polycrystalline silicon
Veröffentlicht in Journal of applied physics
VolltextArtikel -
9
Calculated moments for the implantation of boron into silicides
Veröffentlicht in Journal of applied physics
VolltextArtikel -
10
-
11
-
12
-
13
-
14
-
15
Steady-state photocarrier collection in silicon imaging devices
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
VolltextArtikel -
16
-
17
-
18
Latch-up and image crosstalk suppression by internal gettering
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
VolltextArtikel -
19
Radiative pion-proton scattering in the static Chew-Low model
Veröffentlicht in Physics letters. B
VolltextArtikel -
20