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    Influence of Structural Defects on the Polishing of Silicon Carbide Single Crystal Wafers

    Influence of Structural Defects on the Polishing of Silicon Carbide Single Crystal Wafers von Bondokov, Robert T., Lashkov, Tsanko, Sudarshan, Tangali S.


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    A Method for Defect Delineation in Silicon Carbide Using Potassium Hydroxide Vapor

    A Method for Defect Delineation in Silicon Carbide Using Potassium Hydroxide Vapor von Bondokov, Robert T., Khlebnikov, Igor I., Lashkov, Tsanko, Tupitsyn, Eugene, Stratiy, Georgiy, Khlebnikov, Yuri, Sudarshan, Tangali S.


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