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Suchergebnisse - Langfischer, H.
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Evolution of tungsten film deposition induced by focused ion beam
von
Langfischer, H.
,
Basnar, B.
,
Hutter, H.
,
Bertagnolli, E.
Veröffentlicht in
Journal of vacuum science & technology. A, Vacuum, surfaces, and films
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2
Simulation of ion beam direct structuring for 3D nanoimprint template fabrication
von
Platzgummer, E.
,
Biedermann, A.
,
Langfischer, H.
,
Eder-Kapl, S.
,
Kuemmel, M.
,
Cernusca, S.
,
Loeschner, H.
,
Lehrer, C.
,
Frey, L.
,
Lugstein, A.
,
Bertagnolli, E.
Veröffentlicht in
Microelectronic engineering
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3
Focused ion beam prepared contacts of tungsten to silicon characterized by a cross-bridge Kelvin resistor approach
von
Langfischer, H.
,
Bertagnolli, E.
Veröffentlicht in
Journal of applied physics
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4
Focused ion beam induced surface amorphization and sputter processes
von
Basnar, B.
,
Lugstein, A.
,
Wanzenboeck, H.
,
Langfischer, H.
,
Bertagnolli, E.
,
Gornik, E.
Veröffentlicht in
Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures
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Artikel
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5
Ion beam induced deposition of dielectric nanostructures
von
Wanzenboeck, H.D
,
Lugstein, A
,
Langdischer, H
,
Bertagnolli, E
,
Gritsch, M
,
Hutter, H
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Tagungsbericht
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6
Versatile Nanodeposition of Dielectrics and Metals by Non-Contact Direct-Write Technology
von
Wanzenboeck, H D
,
Langfischer, H
,
Harasek, S
,
Basnar, B
,
Hutter, H
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Journal Of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics And Nanometer Structures
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Journal Of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics And Nanometer Structures Processing, Measurement, And Phenomena
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Journal Of Vacuum Science & Technology. A, Vacuum, Surfaces, And Films
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