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Static Characterization On-State of an Industrial Si Power MOSFET at Cryogenic Temperature
von
Laib, Yanis
,
Berger, Kevin
,
Rael, Stephane
,
Leveque, Jean
,
Viguier, Christophe
,
El-Wakeel, Abdelrahman
,
Zhang, Min
Veröffentlicht in
IEEE transactions on applied superconductivity
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