-
1
-
2
-
3
Atomic Structure of Surface Dielectric Dead Layer in BiFeO3 Thin Film
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
VolltextArtikel -
4
Rapid aberration measurement with pixelated detectors
Veröffentlicht in Journal of microscopy (Oxford)
VolltextArtikel -
5
-
6
Optical properties of a nanostructured glass-based film using spectroscopic ellipsometry
Veröffentlicht in Thin solid films
VolltextArtikel -
7
-
8
-
9
Aberration measurement using the Ronchigram contrast transfer function
Veröffentlicht in Ultramicroscopy
VolltextArtikel -
10
-
11
-
12
-
13
-
14
Atomic-Level Fabrication of Crystalline Oxides in STEM
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
VolltextArtikel -
15
-
16
High-Resolution STEM Analysis of Nanoparticle Materials
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
VolltextArtikel -
17
-
18
AB/AC Stacking Boundaries in Bilayer Graphene
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
VolltextArtikel -
19
Low Voltage STEM for the Study of Defects in 2D Materials
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
VolltextArtikel -
20