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Scaling effects upon fractal etch pattern formation on silicon photoelectrodes
Veröffentlicht in Electrochimica acta
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Real-time monitoring of SiO2/Si(111) interlayer etching by Brewster-angle reflectometry
Veröffentlicht in Surface science
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Colored porous silicon as support for plasmonic nanoparticles
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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